PCT高壓老化試驗(yàn)箱是縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間等性能測(cè)試必*儀器。它主要用于測(cè)試產(chǎn)品的耐高溫、高濕、高壓之性能；可以加速暴露產(chǎn)品在研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中的不良或缺陷，以便更好的完善產(chǎn)品之各項(xiàng)性能指標(biāo)。

 

　　該試驗(yàn)箱主要是測(cè)試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦罚蚍庋b體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線(xiàn)路板，多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè)，測(cè)試其制品的耐壓性，氣密性。加速老化壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力（如：溫度）與工作應(yīng)力，加快試驗(yàn)過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。

 

　　PCT高壓老化試驗(yàn)箱的使用方法：

　　1、將物品放入箱內(nèi)。關(guān)好箱門(mén)后接通電源。

　　2、試料準(zhǔn)備：將試品逐一編號(hào)后，用試品夾鉤掛于試品轉(zhuǎn)盤(pán)上，以相互不接觸碰撞為宜。

　　3、待一切準(zhǔn)備就緒，即關(guān)上箱門(mén)。

　　4、將電源插頭插上，開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān)，及加熱開(kāi)關(guān)，此時(shí)鼓風(fēng)機(jī)同時(shí)開(kāi)始工作。

　　5、把電源開(kāi)關(guān)撥至“開(kāi)”，此時(shí)電源指示燈亮，數(shù)顯控溫儀有數(shù)字顯示。

　　6、控溫儀設(shè)定?？販貎x顯示箱內(nèi)有溫度，一般情況下。加熱溫度到后過(guò)一段時(shí)間進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

　　7、當(dāng)所需工作溫度較低時(shí)，可采用二次設(shè)定方法，如需工作溫度80℃時(shí)，第一次可設(shè)定70℃，等溫度過(guò)沖回落時(shí)，在第二次設(shè)定80℃，這樣可降低甚至杜絕溫度過(guò)沖現(xiàn)象，使箱內(nèi)溫度盡快進(jìn)入恒溫狀態(tài)。

　　8、開(kāi)啟轉(zhuǎn)盤(pán)開(kāi)關(guān)，使試樣以10-16r/min速度在箱內(nèi)均勻旋轉(zhuǎn)。

　　9、根據(jù)不同的物品，不同的濕度程度，選擇不同的干燥溫度和時(shí)間。

　　10、結(jié)束后，把電源開(kāi)關(guān)撥至“關(guān)”處，但不能馬上打開(kāi)箱門(mén)取出物品，小心燙傷，可先打開(kāi)箱門(mén)降低箱內(nèi)溫度再取出物品。